ESP-IDF ile ADC Okuma ve Kalibrasyon: Hassas Analog Ölçüm
Analog sensörler (potansiyometreler, NTC sıcaklık probları, LDR ışık sensörleri veya pil voltaj bölücüleri) mikrodenetleyicilerde analog-dijital dönüştürücü (ADC) birimleri üzerinden okunur. Ancak ESP32’nin yerleşik SAR ADC birimi, 0V ve 3.3V uçlarında doğal bir lineersizliğe (doğrusal olmama) ve çip üretim farklılıklarından kaynaklanan referans gerilimi sapmalarına sahiptir. Bu nedenle endüstriyel doğrulukta gerilim ölçümü için ESP-IDF ADC kalibrasyon mekanizmasını […]